1. XRF 技术简介

X射线荧光光谱（XRF）是一种非破坏性的元素分析方法，适用于固体、粉末和液体样品。它通过激发样品中的原子，使其发射特征X射线来确定元素组成。

2. 技术原理

激发过程：X射线照射样品，使内层电子跃迁至高能级。

特征辐射：当电子回到低能级时，发射出特定能量的X射线。

光谱分析：通过探测器记录这些特征X射线的能量，确定元素种类。

3. 应用领域

材料科学：分析合金成分、涂层厚度等。

考古学：鉴定文物的材质和年代。

环境监测：检测土壤和空气中的重金属污染。

4. 实施步骤

样品制备：根据样品类型选择合适的制样方法（如压片、熔融）。

仪器设置：调整X射线源的能量和强度。

数据分析：使用专用软件解析光谱图并生成报告。

5. 挑战与展望

穿透深度限制：XRF主要适用于表面分析，深层信息难以获取。

标准化：需要建立统一的操作规范和数据解释标准。

未来趋势：结合其他技术实现多维度分析，提升分辨率和灵敏度。